Analizador de tamaño de partículas LS 13 320 XR

Para grandes mejoras que le ayudan a detectar pequeñas diferencias.

El LS 13 320 XR ofrece los mejores datos de distribución de tamaño de partículas de su clase mediante tecnología PIDS avanzada,* la cual permite mediciones de alta resolución y un intervalo dinámico ampliado. Al igual que sucede con el LS 13 320, el analizador XR proporciona resultados rápidos y precisos y le ayuda a agilizar los flujos de trabajo para optimizar la eficiencia. Algunas grandes mejoras le ayudan a detectar de manera fiable pequeñas diferencias que pueden tener un gran impacto en sus datos de análisis de partículas.

Documentación y notas de aplicación

Elija un modelo LS 13 320 XR

Características del LS 13 320 XR

Detecta pequeñas diferencias

  • Intervalo de medición ampliado: 10 nm – 3500 µm
  • La difracción láser plus es una avanzada tecnología de dispersión diferencial de la intensidad de polarización (PIDS) que permite la medición de alta resolución y la notificación de datos reales a partir de 10 nm
  • Proporciona una detección precisa y fiable de varios tamaños de partícula en una única muestra

Software fácil de usar

  • El software ADAPT dispone de una verificación automática de aceptación/fallo
  • Los métodos preconfigurados aportan resultados con 3 clics o menos
  • Simplifica la operación del analizador tanto para usuarios expertos como para principiantes
  • Vista superpuesta de los datos históricos con 1 clic
  • Diagnósticos de usuario intuitivos le mantienen informado durante la obtención de muestras
  • Creación simplificada de métodos para mediciones estandarizadas

El software ADAPT está habilitado para 21 CFR Parte 11

  • Sistema de seguridad personalizable para satisfacer diversas necesidades
  • Elija entre 4 niveles de seguridad
  • La configuración de alta seguridad cumple con 21 CFR Parte 11

Tecnología PIDS* para la detección directa de partículas de 10 nm

  • 3 longitudes de onda de luz (450, 600 y 900 nm) irradian las muestras con luz polarizada vertical y horizontal
  • El analizador mide la luz dispersada de las muestras a lo largo de un intervalo de ángulos
  • Las diferencias en la luz radiada de forma horizontal y vertical para cada longitud de onda proporcionan datos de alta resolución de distribución de tamaños de partículas

Especificaciones de producto del LS 13 320 XR

Light Source Diffraction: Solid-state (780 nm) PIDS: Tungsten lamp with high-quality band-pass filters (450, 600 and 900 nm)
Particle Size Analysis Range 10 nm - 3,500 µm
Fluid Compatibility Emulsions, Suspensions, Powders
Reporting PDF, Excel
Item Specifications Referenced B98100

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